ZEIT Group
86-28-62156220-810
hua.du@zeit-group.com
Vraag een offerte aan
描述
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Arabic
Hindi
Indonesian
Vietnamese
Persian
Polish
描述
Thuis
Categorieën
Optische coatingapparatuur
Optische testapparatuur
Fotomasker Substraat
Dubbele breking meetsysteem
Optische elementen
Afzettingsapparatuur voor atoomlagen
Magnetron sputterende coatingmachine
Detectieapparatuur voor oppervlaktedefecten
Magnetorheologische afwerkmachine
Apparatuur voor vlakheidsinspectie
Apparatuur voor oppervlakte-inspectie
Niet-standaard uitrusting
Geautomatiseerde productielijnoplossingen
Het Systeem van de laserinterferometer
Digitale Autocollimator
Interferometerlens
Producten
Middelen
Nieuws
Over ons
Bedrijfsprofiel
Fabrieksreis
Kwaliteitscontrole
Contacteer ons
Producten
Vraag een offerte aan
Thuis
-
ZEIT Group Producten
Visueel inspectiesysteem voor de fijne chemische industrie Niet-standaard apparatuur voor optische tests
Lens Oppervlak Vorm Structurele Licht Oppervlak Inspectie Apparatuur
Transversale resolutie 0,25 mm autolak oppervlak inspectie apparatuur OEM
Lamp Reflector Vorm Oppervlak Inspectie Apparatuur Meetbereik 200*150mm2
4mm Marmeren Afdichting Component Optische Vlakheid Inspectie Apparatuur Tester
Afdichting Component Vlakheid Inspectie Apparatuur Hoge Precisie Vlakheid Tester 633nm
Detectieapparatuur voor transparante substanties Dubbele breking 590nm
VIS Stress PET PMMA meetapparatuur voor dubbele brekingsdetectie
Lichtgeleiderplaat Display Component Spanning Magnitude Dubbele brekingsdetectieapparatuur
650nm Lens Stress Dubbele Brekingsmeting Detectieapparatuur
Real-time filmstress-geïnduceerde detectieapparatuur voor dubbele breking
UV-spanning dubbele breking meetsysteem Detectieapparatuur OEM
NIR Spanning Dubbelbreking Meetsysteem Detectieapparatuur VIS-520nm 590nm 650nm
Op een voertuig gemonteerde bril Detectieapparatuur voor spannings-dubbelbrekingsmetingssysteem
Detectieapparatuur voor dubbele brekingsmeting in de halfgeleiderindustrie
OEM XY Two Axis Surface Defect Detection Equipment in de halfgeleiderindustrie
6
7
8
9
10
Laatste
Totaal 10 Pagina's
