Bericht versturen
Maximaal 5 bestanden, elk formaat van 10M wordt ondersteund. OK
ZEIT Group 86-28-62156220-810 hua.du@zeit-group.com
Vraag een offerte aan
描述
English French German Italian Russian Spanish Portuguese Dutch Greek Japanese Korean Arabic Hindi Indonesian Vietnamese Persian Polish
描述

Optische testapparatuur

Vraag een offerte aan
kwaliteit Optische testapparatuur Service
Thuis - Categorieën - Optische testapparatuur
Categorieën

Optische coatingapparatuur

Optische testapparatuur

Fotomasker Substraat

Dubbele breking meetsysteem

Optische elementen

Afzettingsapparatuur voor atoomlagen

Magnetron sputterende coatingmachine

Detectieapparatuur voor oppervlaktedefecten

Magnetorheologische afwerkmachine

Apparatuur voor vlakheidsinspectie

Apparatuur voor oppervlakte-inspectie

Niet-standaard uitrusting

Geautomatiseerde productielijnoplossingen

Het Systeem van de laserinterferometer

Digitale Autocollimator

Interferometerlens

Laat een bericht achter

Totaal 1 Pagina's
Recentste Producten

Onze producten worden over de hele wereld verkocht. U kunt gerust zijn op het hele proces van onze producten.

  • CHINA Spanningsmagnitude Dubbele brekingsmeetsysteem Optische testapparatuur Realtime

    Spanningsmagnitude Dubbele brekingsmeetsysteem Optische testapparatuur Realtime

  • CHINA Krassen Stof Optische testapparatuur Halfgeleider oppervlaktedetector 1,8 μM

    Krassen Stof Optische testapparatuur Halfgeleider oppervlaktedetector 1,8 μM

  • CHINA ZEIT Optische testapparatuur Lamp Reflector Vorm Wafer Vlakheid Detectie van oppervlaktedefecten

    ZEIT Optische testapparatuur Lamp Reflector Vorm Wafer Vlakheid Detectie van oppervlaktedefecten

  • CHINA Operationele golflengte 633 Nm Optische testapparatuur Vlakheidstester

    Operationele golflengte 633 Nm Optische testapparatuur Vlakheidstester

  • CHINA Realtime spanningsmagnitude Spanningsdistributie Dubbele brekingsmeting Detectieapparatuur

    Realtime spanningsmagnitude Spanningsdistributie Dubbele brekingsmeting Detectieapparatuur

  • CHINA VIS 520nm 590nm 650nm Dubbele breking meetsysteemapparatuur

    VIS 520nm 590nm 650nm Dubbele breking meetsysteemapparatuur

  • CHINA Krassen Stof Halfgeleider Oppervlak Detectieapparatuur Resolutie 1,8 μM

    Krassen Stof Halfgeleider Oppervlak Detectieapparatuur Resolutie 1,8 μM

  • CHINA Semiconductor Surface Detector Systems Optische testapparatuur 40x

    Semiconductor Surface Detector Systems Optische testapparatuur 40x