ZEIT Group
86-28-62156220-810
hua.du@zeit-group.com
Vraag een offerte aan
描述
English
French
German
Italian
Russian
Spanish
Portuguese
Dutch
Greek
Japanese
Korean
Arabic
Hindi
Indonesian
Vietnamese
Persian
Polish
描述
Thuis
Categorieën
Optische coatingapparatuur
Optische testapparatuur
Fotomasker Substraat
Dubbele breking meetsysteem
Optische elementen
Afzettingsapparatuur voor atoomlagen
Magnetron sputterende coatingmachine
Detectieapparatuur voor oppervlaktedefecten
Magnetorheologische afwerkmachine
Apparatuur voor vlakheidsinspectie
Apparatuur voor oppervlakte-inspectie
Niet-standaard uitrusting
Geautomatiseerde productielijnoplossingen
Het Systeem van de laserinterferometer
Digitale Autocollimator
Interferometerlens
Producten
Middelen
Nieuws
Over ons
Bedrijfsprofiel
Fabrieksreis
Kwaliteitscontrole
Contacteer ons
Zoekresultaat (7)
Thuis
-
Producten
-
mask substrate surface defect detection
Krassen Stofmasker Substraat Oppervlak Detectieapparatuur OEM
Detectieapparatuur voor oppervlaktedefecten van glassubstraat 1.8um
OEM XY Two Axis Surface Defect Detection Equipment in de halfgeleiderindustrie
Krassen Stofinspectie Apparatuur voor het detecteren van oppervlaktedefecten in de IC-chipindustrie
Krassen Stof Halfgeleider Oppervlak Detectieapparatuur Resolutie 1,8 μM
Semiconductor Surface Detector Systems Optische testapparatuur 40x
Krassen Stof Optische testapparatuur Halfgeleider oppervlaktedetector 1,8 μM
Totaal 1 Pagina's
